SDW系列平面硅探测器

平面硅探测器采用先进的半导体制程工艺制造，通过光刻技术精确确定几何外形，离子注入工艺精确控制掺杂深度分布，具有低漏电流和极薄死层厚度特性，平面硅探测器可用于 α、β和质子等带电粒子探测。

产品特点:

◆ 标准探测器可烘烤至 120℃
◆ 入射窗铝窗坚固耐用，方便清洗擦拭
◆ 采用表面钝化工艺，具有低漏电流和高稳定性

性能参数:

1. 工作温度范围：-40℃~50℃
2. 推荐偏置电压范围：6V-70V
3. 探测器有效面积范围：13-400mm²